Elektrische Charakterisierung und Modellierung von metallischen Interkonnektoren (MIC) des SOFC-Stacks

Abstract

In dieser Arbeit wurde der Effekt des metallischen Interkonnektors (MIC) auf die Leistungsdichte der anodengestützten Zelle (ASC) sowie die Wechselwirkung zwischen dem MIC und der Kathode (Cr-Vergiftung) untersucht. Durch die Separation der Elektrodenverluste wurden drei von der Geometrie verursachte Verluste identifiziert und quantifiziert. Weiter konnte gezeigt werden, dass in Anwesenheit des MIC eine starke Degradation der Zellleistung durch Cr-Vergiftung der Kathoden-Elektrochemie stattfand.